본교 전자공학부 반도체 및 집적회로연구실(지도교수 김동명, 김대환 교수) 연구팀(공동식 학생 외 10명)이 제18회 반도체 학술대회 우수 포스터 논문상을 수상하였다.

연구팀은 이번 논문을 통해 비정질 산화물 반도체 박막트랜지스터의 전기적 특성 및 신뢰성에 큰 영향을 미치는 밴드갭 내의 상태밀도함수(density of states)를 박막 두께에 따라 추출하여, 신뢰성 문제에 대한 특성분석의 방법론을 개발하였다.

제18회 반도체 학술대회 우수포스터 논문상 부상으로는 상금 50만원과 함께 IEEE Electron Device Society Korea Chapter 상패를 부여받았다.

이번 18회 반도체 학술대회 우수 포스터 논문상을 수상한 연구팀이 속한 반도체 및 집적회로 연구실 (지도교수 김동명, 김대환) 에서는 매년 SCI 급 논문과 각종 학술대회 및 학회에서 꾸준한 논문 성과를 내고 있다.

특히 공동식(석사) 학생은 SIC 급 9편의 주 저자 및 공동저자로 참여하여 우수한 연구결과를 업적으로 남겼을 뿐 아니라, 지난 17,18,19회 한국반도체학술학회에서 10편의 주 저자 및 공동저자로 우수한 연구 결과를 발표하기도 하였다. 또한, 유명외국 저널인 제49회 Society for Information Display (SID) conference에서 주 저자로서 연구 내용을 포스터로 발표하는 등 활발한 연구 성과를 이뤘다.

< 전자공학부 우수 포스터 논문상 수상 팀 >

• 저 자 : 전자공학부 공동식, 정현광, 배민경, 김용식, 김성철, 전용우, 김재형, 김우준, 허인석, 장재만, 이지은, 이장식
• 지도 교수 : 김동명, 김대환
• 논문 제목 : The Effect of the Active Layer Thickness on the Negative Bias Illumination Stress-Induced Instability in Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors